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  New?Imaging?Technologies用于半導體檢測的NIT成像解決方案 2022-03-11 17:09:27

  ?在過去的數年里，SWIR波段被公認是半導體器件測試的最好波長范圍之一。不論是晶圓或太陽能發電板上的裂痕和缺陷，或是集成電路的故障分析，InGaAs波長（900m-1700nm）成像設備主要用于透視硅內部。

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  Safran Sensing Technologies工業IMU和陀螺儀模塊 2023-05-09 17:00:01

  Safran? Sensing Technologies Norway生產設計應用在各種各樣工業應用的高精度陀螺儀和IMU解決方案。這些應用通常需要具備成本效率的中小型陀螺儀和IMU解決方案，同時保證相當高的穩定性和控制精度。